Полностью автоматизированные измерительные станции Semishare A8/A12 предназначены для решение широкого спектра измерительных задач в микроэлектронной промышленности.
Автоматические зондовые станции Semishare A8/A12 в основном применяются на производстве для проведения большого количества однотипных измерений при выходном контроле серийной полупроводниковой продукции.
Данные станции оборудованы системой автоматической загрузки/выгрузки из контейнера (кассеты) за счет чего обеспечивается жесткая стыковка с тестером функционального контроля и возможность работы с вертикальными проб-картами.
Технология машинного зрения, возможность жесткой состыковки с тестером функционального контроля и возможность работы в режиме 24/7 позволяют полностью удовлетворить требования крупных компаний, занятых производством микроэлектронных устройств и компонентов и производством кристаллов.
Электрический сигнал на ИС подается и измеряется с помощью подключаемого тестера. Затем полученные параметры контролируются, оцениваются и сохраняются на стороне программного обеспечения, а информация о результатах оценки передается обратно в струйную систему для маркировки дефектного чипа (интегральной схемы).
С помощью системы программного управления механическая платформа зажимного патрона перемещается к следующему тестируемому чипу (интегральной схеме), а затем манипулятор автоматически загружает и транспортирует пластину к матрице и обратно и по очереди выполняет циклические испытания.
Работа с пластинами диаметром до 300 мм;
Жесткая стыковка с тестером функционального контроля;
Полностью автоматическая система с функцией автозагрузки/выгрузки из кассеты (контейнера);
Возможность тестирования силовых устройств в диапазоне до 10 кВ / 500 А;
Поддержка вертикальных проб-карт;
Жесткая стыковка с тестером функционального контроля;
Высокая производительность (до 70 мм/с) и возможность работы 24/7.
Высокая эффективность измерений в режиме 24/7 обеспечивается благодаря интегрированному модулю предварительной настройки и автоматическому перемещению тестируемых пластин.
Автоматическое и высокоточное позиционирование ланцета обеспечивается благодаря полностью замкнутой системе управления движением микронного уровня с оптической системой позиционирования, использующей новейшие программные алгоритмы обработки изображений.
Высокая совместимость благодаря универсальному манипулятору с собственной конструкцией интегрированного шарнира, который может принимать различные полупроводниковые пластины (ультратонкие/острые/TAIKO (от 50 мкм) и т.д.).
Низкие вибрации, низкий уровень шума и стабильная работа системы благодаря высокой устойчивости, достигаемой за счет малого размера, веса и высокопрочной конструкции мобильной платформы патрона с низким центром тяжести, которая выдерживает испытания большим давлением иглы.
Технические характеристики моделей
Модель зондовой станции |
A8 |
A12 |
|
Пластина |
Диаметр |
6" (150 мм), 8" (200 мм) |
8" (200 мм), 12" (300 мм) |
Толщина |
50 - 2000 мкм |
200 - 2000 мкм |
|
Размер измеряемого устройства (кристалла) |
300 - 100000 мкм |
300 - 100000 мкм |
|
Вес |
≤500 г |
≤500 г |
|
Держатель пластин |
Диапазон перемещения в плоскости XY (в плоскости пластины) |
260 мм х 450 мм |
X ±170 мм; Y -180, +600 мм |
Повторяемость XY |
≤±1 мкм |
≤±1 мкм |
|
Точность XY |
≤ ±2 мкм |
≤ ±2 мкм |
|
Разрешение XY |
0.1 мкм |
0.1 мкм |
|
Максимальная скорость перемещения в плоскости XY |
200 мм/с |
240 мм/с |
|
Диапазон перемещения в плоскости Z (вверх-вниз) |
0 - 80 мм |
0 - 80 мм |
|
Повторяемость Z |
≤±1 мкм |
≤±1 мкм |
|
Точность Z |
≤±2 мкм |
≤±2 мкм |
|
Разрешение Z |
0.1 мкм |
0.1 мкм |
|
Максимальная скорость перемещения в плоскости Z |
80 мм/с |
80 мм/с |
|
Наклон зонда относительно продольной горизонтальной оси (Θ) |
Диапазон Θ |
±10° |
|
Разрешение Θ |
0.00001° |
||
Давление воздуха |
0.6 - 0.7 МПа |
0.4 - 0.8 МПа |
|
Давление вакуума |
от -70 до -90 кПа |
||
Габаритные размеры (ДxШxВ) |
1124 x 1158 x 955 мм |
1675 x 1595 x 1500 мм |
|
Электропитание |
220 В переменного тока 50/60 Гц |