Производим и внедряем инженерные системы с 1993 года
telegram +7 495 215-57-17 Быстрый запрос
Меню

Высоко- и низкотемпературные вакуумные зондовые станции SEMISHARE серии CG

Производитель: SEMISHARE

Высоко- и низкотемпературные вакуумные зондовые станции SEMISHARE серии CG

Вакуумные высокотемпературные и низкотемпературные зондовые станции SEMISHARE серии CG представляют собой комплексное измерительное решение для проведения широкого спектра испытаний полупроводниковых пластин, применяемых при производстве электронной продукции, предназначенной для применения в суровых условиях, таких как космическая среда, вакуум, сверхнизкие или высокие температуры.

Вакуумные зондовые станции SEMISHARE серии CG – это профессиональные измерительные системы для ВЧ-, СВЧ-измерений, исследования ВАХ и ВФХ, тестирования характеристик I-V, C-V, радиочастотного тестирования, тестирования фотоэлектрических устройств, изучения магнитных и транспортных характеристик, исследования электрофизических параметров материалов, тестирования характеристик устройств и материалов с использованием методов эффекта Холла в условиях сверхвысокого вакуума и высокой или низкой температуры.

Результаты исследований помогают производителям чипов на этапе разработки устройств, предназначенных для применения в оборудовании промышленного класса, летательных и космических аппаратах, лучше понять влияние множества суровых факторов, возникающих, например, в стратосфере или в условиях нахождения на околоземной орбите или в далеком космосе. Среди таких условий: экстремально низкие и высокие температуры, вакуум, космическое излучение (электромагнитное или корпускулярное: фотоны, элементарные частицы с высокими энергиями) и т.д.

Зондовые станции SEMISHARE CG позволяют идеально воссоздавать влияние вышеперечисленных эффектов на полупроводниковые приборы в течение длительного времени и эффективно наблюдать за состоянием электрических характеристик микросхем в суровой среде.

Особенности проведения испытаний в вакуумных зондовых станциях SEMISHARE серии CG:

  • Особенность испытания свойств полупроводниковых пластин при экстремально низких температурах заключается в том, что водяной пар, содержащийся в воздухе (атмосфере), будет конденсироваться на пластине, что может привести к чрезмерной утечке или сделать невозможным соприкосновение зонда с электродом, и тест завершится неудачей. Для предотвращения этого перед испытанием водяной пар в вакуумной камере необходимо откачать насосом. А для предотвращения повторного образования конденсата насос должен работать в течение всего процесса испытания.
  • Эффективность охлаждения может быть значительно увеличена благодаря эффекту вакуумной изоляции.
  • Во избежание возникновения процесса окисления во время нагрева пластины до температур свыше 500°C, которое может привести к электрическим сбоям, физической и механической деформации пластины, из вакуумной камеры также с помощью насоса необходимо удалить кислород и обеспечить его работу в течение всего процесса испытания.
  • В процессе тестирования пластины происходит значительное изменение температуры в довольно широком диапазоне от низкой до высокой. Явление теплового расширения и сжатия может вызвать относительное смещение между зондом и электродом устройства, что требует своевременного изменения положения иглодержателя. Для этих целей станции могут оснащаться автоматическим иглодержателем.

Сферы применения зондовых станций SEMISHARE серии CG:

Данные установки нашли широкое применение в таких областях, как производство полупроводников (микроэлектроника и интегральные схемы), микроволновая электроника и наноэлектроника, спинтроника, молекулярная электроника, оптоэлектроника, а также создание сверхпроводников, разработка микроэлектромеханических систем (MEMS), квантовых устройств.

Ключевые особенности зондовых станций SEMISHARE серии CG:

  • Автоматический контроль подачи хладагента для точного выхода на заданную температуру;

  • Возможность работы в широком диапазоне температур от 4.2 К до 473 К;

  • Смотровое окно с защитой от внешней радиации для улучшения равномерности распределения температуры по образцу;

  • Специальные держатели зондов с теплоотводом обеспечивают точное размещение на образце;

  • Возможность перемещения зонда без необходимости разгерметизации камеры;

  • Опциональный источник магнитного поля;

  • Модульная конструкция станции с возможностью конфигурации под конкретную задачу.

Технические характеристики моделей

Модель зондовой станции

CG-O-2

CG-O-4

CG-C-2

Держатель пластин (вакуумный фиксатор)

Размер

2” (50 мм)

4” (200 мм)

2” (50 мм)

Метод фиксации

Вакуумная термопаста / подпружиненный зажим

Степень вакуума

1*10⁻¹⁰ мм рт.ст. макс. вакуум

Оптические характеристики

Перемещение микроскопа

360° вращение + перемещение на 100 мм

Увеличение

Стандартный микроскоп с увеличением до 216X с разрешением 4 мкм или металлографический микроскоп с увеличением 20X - 1000X

Размеры смотрового окна

2” (50 мм)

4” (200 мм)

2” (50 мм)

Характеристики

температурного

контроля

Метод охлаждения

Жидкий азот / жидкий гелий

Охлаждающий компрессор

Метод управления

Ручная/автоматическая регулировка потока хладагента

Автоматическое регулирование в замкнутом контуре

Диапазон

77K - 473K / 4.2K - 473K

7.3K - 473K

Разрешение

0.001K

Стабильность

4.2K±0.2K, 77K±0.1K, 373K±0.08K, 473K±0.1K

Микропоизиционеры

Количество микропозиционеров

до 6 различных микропозиционеров

Метод регулировки

Ручное управление через вакуумный сильфон

Точность

2 мкм

Ток утечки

1 пА/В при 25°C, 100 фА/В при 25°C

Разъем

Триаксиальный / SMA / K / оптоволоконный интерфейс

Электропитание

220 В переменного тока 50/60 Гц

Трехфазное напряжение 380 В

Масса

около 170 кг

около 170 кг

около 350 кг

Габаритные размеры (ДхШхВ)

850 х 800 х 1350 мм

   

Наша компания является официальным дилером SEMISHARE на территории Российской Федерации
Консультацию и индивидуальные условия покупки Вы всегда можете получить
по телефону: +7 495 215-57-17
или отправить заявку на почту info@2test.ru

Модели

Размер пластин: 2” (50 мм)
Размер пластин: 4” (200 мм)
Размер пластин: 2” (50 мм)
Вверх
Задать вопрос специалисту